MX-IR / BX-IR半导体/FPD检查显微镜河南省周口市非标加工
USPM-RU III镜片反射率测定仪
USPM-RU III反射仪可精确测量当前分光仪无法测量的微小、超薄样本的光谱反射率，不会与样本背面的反射光产生干涉。 是最适合测量曲面反射率、镀膜评价、微小部品的反射率测定系统。用物镜对焦于样本表面的微小光斑（?60 μm），可以测定镜片曲面及镀膜层是否均匀。
1、采用特殊光学系统，消除背面反射光。
2、不必进行背面的防反射处理，可正确测定表面的反射率。
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