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超声波测厚仪,26MGXTDL 美国泛美 
产品名称: 超声波测厚仪,26MGXTDL 美国泛美
产品型号: 26MGXTDL
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简单介绍
美国泛美超声波测厚仪,26MGXTDL 测量腐蚀金属理想的便携式测厚仪·使用双晶探头 ,从被测物的一面就可以测量·测量腐蚀 ,有凹痕,被氧化或呈粒状等物体的厚度


 

美国泛美超声波测厚仪,26MGXTDL

的详细介绍
美国泛美超声波测厚仪26MGXTDL 美国泛美超声波测厚仪www.63504668.com/26MGXTDL

26MG
超声波测厚仪

·测量腐蚀金属理想的便携式测厚仪
·使用双晶探头 ,从被测物的一面就可以测量
·测量腐蚀 ,有凹痕,被氧化或呈粒状等物体的厚度

 

 
 

技术规格
型号
26MG
26MG-XT
26XTDL
显示屏
液晶显示45×20mm
测量范围
0.5~500mm
频率范围
1MHZ ~15MHZ (-3dB)
声速范围
0.762~13,999mm/μsec
显示精度
0.1/0.01mm
存储装置
8000组厚度值
增益闸门
高/低任选
高/低任选
差分测量
 
高低报警
背光
自动/手动(任选)
工作温度
-10~50℃
测量温度
-20~500℃
探头种类
双晶/自动识别
RS232接口
选件
选件
电池
AA 5#电池×2 工作250小时
外型尺寸
64.8 × 128.5 × 29mm
重量
0.24Kg

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