测厚探头超声波高频复合单晶片测厚仪探头延迟探头
产品概述
测厚探头超声波高频复合单晶片测厚仪探头延迟探头是一种专为高精度厚度测量设计的检测设备组件。该探头采用高频复合单晶片技术,能够实现对金属、塑料、复合材料、玻璃、陶瓷等多种材料的厚度测量。其核心特点是结合了高频超声波技术与延迟块设计,有效提升了薄材料测量的分辨率和准确性。探头适用于不同工况下的厚度检测需求,包括常规工业检测和特殊环境应用。136
技术特点
该探头采用高频复合单晶片设计,频率范围通常在5MHz至7.5MHz之间,能够实现0.7mm至350mm的测量范围(具体视材料而定)。延迟块设计有助于提高表面分辨率,特别适合超薄工件的测量,最小可测厚度可达0.08mm(塑料)和0.10mm(金属)。探头具有较好的穿透性能,能够适应不同曲率半径的工件表面测量需求。复合单晶片结构确保了超声波信号的稳定发射和接收,提高了测量的一致性和可靠性。131216
应用领域
该探头广泛应用于石油化工、冶金制造、航空航天、造船等工业领域。在管道、压力容器等设备的壁厚监测方面表现突出,能够有效评估材料在使用过程中的腐蚀减薄情况。同时,探头也适用于生产过程中的质量控制和成品检验,如机加工部件、涡轮叶片、汽缸孔等精密零件的厚度测量。针对特殊应用场景,如高温环境或曲面工件,探头也能提供相应的解决方案。4614
使用优势
探头设计考虑了实际操作的便利性,具有较好的兼容性,可适配多种国产和进口测厚仪主机。高频复合单晶片技术使探头在保持高灵敏度的同时,具备较宽的工作频带,能够适应不同声阻抗材料的测量需求。延迟块设计有效减少了近场干扰,提高了薄材料测量的准确性。探头结构坚固耐用,适合在工业环境中长期使用,维护简便,只需定期清洁接触面即可保持良好性能。361220
测量性能
在实际应用中,该探头能够提供稳定的测量结果,测量精度与被测材料性质及表面状况相关。对于钢材料,典型测量精度可达±(1%H+0.1)mm(H为实际厚度)。探头支持多种测量模式,包括单点测量、连续测量和网格测量等,满足不同检测需求。针对特殊材料如铸件或粗晶材料,探头可通过调整增益等参数获得可靠测量数据。温度变化对测量结果的影响可通过温度补偿功能进行修正。41123
测厚探头超声波高频复合单晶片测厚仪探头延迟探头




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