TOFD相控阵V-1（IIW1）与V-2 CBI CSIII试块是专为无损检测领域设计的高精度检测辅助工具，适用于工业制造、能源设备、轨道交通等领域的超声波检测系统校准与性能验证。该系列产品通过优化结构设计与材料选型，能够有效支持TOFD（衍射时差法）及相控阵技术的检测需求，为检测结果的可靠性和一致性提供基础保障。
V-1（IIW1）试块采用特殊合金材料精密加工而成，表面经过高精度研磨处理，内部包含多种几何特征反射体，可模拟不同深度、角度的缺陷形态。其设计充分考虑了检测工艺的多样性需求，能够满足常规焊缝、板材及管材的检测参数调试需求，帮助操作人员快速完成设备灵敏度校准与检测能力验证。
V-2 CBI CSIII试块在V-1基础上进行了功能扩展，创新性地融合了多组曲面反射结构，特别适用于复杂几何形状工件的检测场景。试块通过阶梯状槽孔设计和多角度反射面布局，可辅助检测系统完成声束聚焦性能评估、分辨率测试及角度补偿参数优化。其紧凑的模块化设计便于现场携带，表面防腐蚀处理工艺延长了产品使用寿命，适用于实验室与工业现场的多场景应用。
该系列试块在制造过程中采用严格的质量控制流程，通过多道精密机加工工序确保尺寸精度达到微米级，同时运用特殊热处理技术提升材料稳定性。产品可帮助用户建立检测基准，优化检测方案，提升缺陷识别能力，为各类金属构件的安全评估提供数据支持。配套提供的技术指导服务，可根据具体应用场景提供操作建议，帮助用户充分发挥检测设备性能。
