电极膜厚及粗糙度测试服务是面向科研实验领域推出的专业分析服务，旨在为材料研究、电子器件开发及表面工程等领域提供精准的表面特性数据支持。该服务基于高精度表面粗糙度测量仪及配套分析技术，可实现对电极、薄膜材料、涂层等样品的膜层厚度及表面形貌特征的高效表征，助力用户优化材料制备工艺、提升器件性能。
表面粗糙度测量仪采用非接触式光学测量原理，结合三维形貌重建技术，可在纳米至微米尺度范围内实现表面粗糙度的精准量化。设备搭载高分辨率光学传感器，能够捕捉样品表面微观起伏，并通过专业算法计算Ra、Rq、Rz等关键粗糙度参数，同时支持三维形貌可视化分析。针对透明或半透明电极膜层，仪器配备多光谱干涉模块，可在不损伤样品的前提下，实现10 nm至500 μm范围内膜厚的快速测定，尤其适用于柔性基底、异形结构等复杂样品的测量需求。
本服务采用模块化测试方案，可根据用户需求定制测试参数与分析方法。测试流程包含样品预处理指导、多区域数据采集、重复性验证及数据报告生成等环节，确保结果的科学性和可追溯性。设备配备智能温湿度补偿系统，有效降低环境干扰，保障实验数据稳定性。配套分析软件支持原始数据导出，兼容主流科研数据处理平台，便于用户进行深度分析。
服务团队由具有丰富表面分析经验的技术人员组成，可为用户提供技术咨询、数据解读及实验方案优化支持。通过该服务，研究人员可系统掌握材料表面特性与性能的关联规律，为新能源器件、传感器、功能涂层等领域的技术攻关提供关键数据支撑。
