YB4813半导体特性图示仪
YB4813半导体特性图示仪是一款面向半导体器件研发、生产及质量检测环节设计的多功能测试设备，可针对二极管、晶体管、场效应管、可控硅等多种类型半导体元器件进行电学特性分析与图形化表征。该设备通过模块化设计，支持多参数同步测量与动态曲线扫描功能，能够直观呈现器件的伏安特性、开关特性及动态响应等关键指标，为工程师优化器件性能、排查产品异常提供可视化数据支持。
在核心性能方面，YB4813采用高精度信号采集系统与低噪声电路设计，确保在宽电流量程（微安级至安培级）与电压范围（毫伏级至千伏级）内实现稳定测量。其内置的智能补偿算法可有效降低测试环境干扰，提高小信号检测的准确性。设备配备自适应负载调节功能，支持不同封装类型和功率等级的器件测试，兼容性强，可满足实验室研究与产线批量检测的多样化需求。
人机交互方面，该仪器搭载高清液晶显示屏与人性化操作界面，用户可通过旋钮、触控或远程控制方式快速完成参数设置。测试结果以实时曲线、数据表格等形式呈现，支持图形缩放、多曲线对比及数据导出功能，便于用户进行深度分析与报告生成。此外，设备内置多重安全保护机制，包括过流、过压、过热等异常状态自动预警，保障操作安全性与设备使用寿命。
YB4813半导体特性图示仪适用于半导体材料研究、器件设计验证、生产质量管控及教学实验等场景，其高效稳定的测试能力与灵活的配置方案，可显著提升用户在产品开发、故障诊断和工艺优化中的工作效率。通过持续的技术迭代与功能升级，该设备致力于为半导体行业提供实用、可靠的测试解决方案。
YB4813半导体特性图示仪
的详细介绍
显示半导体器件的各种特性曲线：
测量半导体器件的静态参数：
能在不损坏器件的情况下，测量半导体器件的极限参数：
晶体管双簇显示。 |
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YB4810
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YB4811
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YB4813
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| 集电极电流范围 |
10μA/div~0.5A/div,分15档，误差不超过±3% |
50μA/div~2A/div,分15档，误差不超过±3% |
| 二极管反向漏电流 |
0.2μA/div~5μA/div,分5档 |
0.5μA/div~20μA/div,分6档 |
| 集电极电压范围 |
0.05V/div~50V/div,分10档,
误差不超过±3% |
0.05V/div~500V/div,
分13档,误差不超过±3% |
0.05V/div~500V/div,分13档,
误差不超过±3% |
| 基极电压范围 |
0.1V/div~5V/div,分6档,误差不超过±3% |
0.05V/div~2V/div,分6档,误差不超过±3% |
| 阶梯电流范围 |
0.1μA/级~100mA/级,分19档 |
0.5μA/级~200mA/级,分18档,误差不超过±5% |
| 阶梯电压范围 |
0.1V/级~2V/级,分5档,误差不超过±5% |
0.1V/级~2V/级,分5档,误差不超过±3% |
| 外形尺寸及质量 |
320H×240W×420D(mm) 约16kg |
340H×250W×420D(mm) 约18kg |
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