牛津镀层测厚仪X-Strata 920型是一款适用于工业检测与质量控制的精密测量设备，专为金属镀层、涂层及表面处理工艺的厚度分析而设计。该设备采用先进的X射线荧光（XRF）技术，可在非破坏性条件下实现快速、准确的镀层厚度测量，帮助用户优化生产工艺并提升产品质量。
在技术性能方面，X-Strata 920型具备多元素同步分析能力，可支持从轻元素（如镁、铝）到重元素（如金、铂）的镀层检测，测量范围覆盖0.01微米至50微米，满足从微小电子元件到大型工业部件的多样化需求。其创新的光路系统与高灵敏度探测器相结合，显著提升了低厚度镀层的测量稳定性，尤其在处理多层复合镀层时，能够清晰分辨各层材料的厚度与成分。
设备采用人性化操作设计，7英寸触控屏与图形化界面简化了参数设置流程，用户可通过预置检测模板快速切换不同应用场景。测量结果可通过图表形式直观呈现，并支持数据导出功能，便于生产追溯与质量分析。针对复杂形状的待测件，仪器配备可调节支架与定位激光，确保检测位置精准定位，减少人为操作误差。
X-Strata 920型在结构设计上兼顾便携性与耐用性，紧凑型机身配合防震防尘工艺，适用于实验室、车间或现场检测环境。其模块化组件设计降低了后期维护成本，而智能化温控系统则保障了设备在连续工作状态下的稳定性。该仪器广泛应用于汽车制造、电子元器件、珠宝首饰、航空航天等领域，为表面处理行业提供可靠的厚度检测解决方案。
牛津仪器通过持续的技术优化，致力于为用户提供更高效的检测体验。X-Strata 920型在确保测量精度的同时，通过简化操作流程与提升设备适应性，帮助生产企业实现质量管控与成本控制的平衡发展。
