M-3便携式手持式薄膜方阻测试仪四探针电阻率测试仪ITO膜方阻仪
产品概述
M-3便携式手持式薄膜方阻测试仪是一款基于四探针测量原理设计的多功能综合测量仪器，适用于半导体材料、导电薄膜及涂层的电阻率和方块电阻测试。该仪器采用轻触按键输入设计，具备零位和满度自校功能，支持手动/自动量程转换，测试结果通过高亮数码管清晰显示，适用于实验室、生产线及野外等多种场景。16
核心功能与特点
仪器采用可充电锂电池供电，续航时间长达48小时，满足移动测试需求。其探头可根据材料特性灵活选配，包括高耐磨碳化钨探针（适用于硅片、金属等硬质材料）和球形镀金铜合金探针（适用于ITO膜、纳米涂层等柔性材料）。通过更换四端子夹具，还可扩展用于电阻器体电阻或金属导体电阻测量。测试范围覆盖0.010Ω~50.00kΩ电阻及0.050Ω~100.0kΩ/□方块电阻，分辨率达0.001Ω。38
应用场景
该设备广泛应用于半导体材料厂、科研机构及高校，可测试硅片、导电塑料、金属镀膜、锂电池极片涂层等多种材料的导电性能。针对不同基底材料（如玻璃、陶瓷、PE膜）上的导电薄膜（如ITO膜、喷涂膜），仪器能提供稳定精确的测量数据。其紧凑设计（10cm×3.6cm×21cm）和0.3kg的轻量化机身，显著提升了操作便捷性。710
技术优势
仪器内置厚度与形状修正功能，通过五档量程自动切换减少人为误差。测试数据可通过LED数字表头实时显示，强光或昏暗环境下均能清晰读数。选配测试台后可升级为台式测试系统，支持180mm×180mm样品直接测试，满足不同尺寸材料的检测需求。1323
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