DMR-1C方阻仪是一款专为薄膜材料导电性能分析设计的精密测量设备，适用于塑料薄膜、金属镀层、半导体材料、透明导电膜（如ITO）等各类柔性或刚性基材的方块电阻检测。该仪器通过非破坏性测量方式，帮助用户快速获取材料的表面电阻率数据，为生产工艺优化和质量控制提供可靠依据。
【核心功能与技术特点】
- 高精度测量：采用四探针接触式测量原理，结合智能信号处理技术，可精准测量0.01Ω/□至100kΩ/□范围的方块电阻值，最小分辨率达0.001Ω/□，满足纳米级镀层和超薄导电膜的测量需求。
- 宽量程覆盖：内置多档量程自动切换功能，支持从普通金属镀膜到高阻值功能涂层的多样化检测场景。
- 操作便捷性：配备7英寸高清触控屏，支持一键式测量操作，直观显示电阻值、温度补偿数据及测量曲线，界面支持中英文双语切换。
- 快速响应设计：单次测量时间≤3秒，配合可调压力探针台，确保不同厚度材料的稳定接触，重复性误差≤±0.5%。
- 环境适应性：搭载温度补偿算法，有效降低环境因素对测量结果的影响，可在15℃-35℃、湿度＜80%的实验环境下稳定工作。
【应用场景】
广泛应用于柔性显示面板导电层检测、光伏背板金属化膜层评估、包装材料抗静电涂层分析、功能性纺织品导电纤维测试等领域，特别适合实验室研发、产线抽检及来料检验等环节。
【产品优势】
• 探针模块化设计：提供点接触/面接触两种探针选配，适应平面、曲面等不同样品形态
• 数据管理功能：支持1000组数据存储，可通过USB接口导出CSV格式测量报告，兼容实验室信息管理系统
• 人机工程学设计：整机重量＜5kg，紧凑型机身搭配可调节支架，兼顾台式和手持测量需求
该仪器采用工业级防护结构，关键部件具备抗电磁干扰能力，通过严格的老化测试确保长期测量稳定性，为新材料研发和产品品质管控提供专业检测工具。
