数字式方块电阻测试仪，电阻率测试仪，四探针薄膜电阻测试仪M-3
产品概述
M-3型数字式方块电阻测试仪是一款基于四探针测量原理的多功能综合测量设备，适用于半导体材料、导电薄膜及涂层的电阻性能测试。该仪器采用模块化设计，主机配备高精度数字显示屏，支持手动/自动量程切换，并集成零位与满度自校功能。可配套不同材质探针探头，满足硬质材料（如硅片、金属）与柔性材料（如ITO膜、纳米涂层）的测试需求，同时通过四端子夹具扩展电阻器体电阻等测量场景。1619
核心功能与特点
仪器采用轻触按键操作，测试结果直接通过数字表头显示，分辨率最高达0.001Ω。支持电阻（0.010-50.00kΩ）、电阻率（0.010-20.00kΩ-cm）及方块电阻（0.050-100.0kΩ/□）多参数测量。其可充电锂电池供电设计便于手持移动测试，适配不同尺寸样品，手持模式无材料尺寸限制，加配测试台后可支持Φ15-130mm圆片或180mm×180mm方片测试。探针组件可选碳化钨硬质探针或镀金铜合金球形探针，兼顾耐磨性与接触稳定性。42327
应用场景与适配性
该设备广泛适用于半导体材料生产、科研机构及高校实验室，可对硅片、锂电池极片、导电泡棉、金属镀层等材料进行导电性能分析。针对特殊应用场景，如电池极片涂层测试，可选用专用箔上涂层探头；而纳米薄膜材料测试则适配高灵敏度球形探针。仪器的小型化设计（10×3.6×21cm）与一体化结构使其适合实验室固定安装或现场移动检测需求。62426
技术优势
采用数字化信号处理技术，有效降低测试误差，重复性表现良好。测试电流范围覆盖1μA-10mA，多档位设计适应不同阻值区间。主机内置数据保持功能，便于记录关键参数。探头采用宝石导向轴套结构，显著降低机械游移对测量结果的影响。环境适应性强，可在0-40℃温度范围内稳定工作。51521
数字式方块电阻测试仪，电阻率测试仪，四探针薄膜电阻测试仪M-3
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