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硅材料复合测试仪, SZT-5  
产品名称: 硅材料复合测试仪, SZT-5
产品型号: SZT-5
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硅材料复合测试仪, SZT-5

 

硅材料复合测试仪SZT-5是一款专为硅基材料性能分析设计的智能化检测设备,适用于半导体、光伏、电子元件制造等领域的材料研发与品质管控环节。该设备通过集成多维度测试模块,可对硅材料的力学特性、热学响应及电学参数进行同步或独立检测,为材料性能优化提供全面数据支持。

在技术设计上,SZT-5采用模块化架构,支持薄膜、块体、粉末等不同形态样品的兼容测试。设备搭载高灵敏度传感器阵列,能够实现0.1μN级别的微力检测和0.01℃级别的温度分辨率,满足纳米级硅材料薄膜的精密测试需求。热学分析模块可模拟-50℃至600℃环境下的材料行为变化,支持连续梯度测试和定点循环测试两种模式。电学测试单元配备四探针接触系统,在避免接触电阻干扰的前提下,准确获取材料的电阻率、载流子迁移率等关键参数。

设备配置智能化操作界面,通过7英寸触控屏实现参数设置、过程监控和数据预览功能。内置数据管理系统可自动生成测试报告,支持多维度数据对比分析和趋势图谱绘制。针对工业场景需求,设备特别设计了防震底座和电磁屏蔽结构,确保复杂环境下的测试稳定性。

SZT-5适用于单晶硅、多晶硅、非晶硅等多种硅基材料的综合性能评估,在太阳能电池片品质检测、半导体晶圆工艺优化、新型硅基复合材料研发等领域具有广泛应用价值。设备采用可扩展设计,用户可根据实际需求选配红外光谱联用模块或真空测试腔体,实现更复杂的复合测试场景。售后服务团队提供设备调试、操作培训和定期维护支持,保障设备的长期稳定运行。

简单介绍
SZT-5 硅材料复合测试仪 SZT-4硅材料复合测试仪,是由二种硅材料测试仪器组合而成的 1,二量程的电阻测量仪器,配以手持式四针测试头或座式测试架,可用来测量片状,柱状,或块状,电阻率


 

SZT-5 硅材料复合测试仪

的详细介绍
SZT-5 硅材料复合测试仪

,概述;

SZT-4硅材料复合测试仪,是由二种硅材料测试仪器组合而成的

1,二量程的电阻测量仪器,配以手持式四针测试头或座式测试架,可用来测量片状,柱状,或块状,电阻率

0.01~200欧姆/厘范围内的半导体材料。通过对恒流源的调整,可以对某些测量结果进行修整,例如对普通硅材料的测试结果要乘以0.628的探险头修正系数,对硅材料薄层扩散和导电薄膜 “方块电阻“ 的修正系数为4.53等均可通过调正恒流电流加以处理。

SZT4数字式四探针测试仪,体形小巧,操作方便,量程适中,十分适於对重炼回料的分选。

2,整流法硅材料P-N极性判别仪,配有三针手持式探头,能对片状或块状电阻率在1000-0.01欧姆/厘米的。硅材料进行极性判别

      本仪器工作环境条件为:

        温  度:18℃―25

            相对湿度:50%70%

      工作室内应无强电场干扰,不与高频设备共用电源。

二,技术参数

1,测量范围

1)电阻率测量:

              0.01-200Ω-cm

 

 

 

 

 

2,数字电压表 

      (1)    :       200mV单一量程

      (2)    :      读数 ±0.2%±3

(3)输入电阻 :      >10MΩ

3,

      (1)电流输出               0~10mA连续可调

      (2)                 1mA, 10mA

      (3)                  ±0.2%±3,

4,手持式四探针测试头

(a)      ::      1mm

  (b)探针机械游移率:      ±1.0%

  (c)      :      碳化钨,φ0.

(d)压力:  最大 2Kg

2)导电类型判别:

可对电阻率为1000-.0.01欧姆/厘米的硅材料作导电类型测定,同时可以声,光报警方式表示被测材料属于重掺

 

方块电阻        0.01-200Ω-

            0.01-200.0Ω

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