SZT-1型数字式四探针测试仪是一款专为材料导电性能分析设计的精密测量设备，适用于半导体材料、金属薄膜、陶瓷基板、导电涂层等多种材料的电阻率与方块电阻检测。该产品基于经典四探针测量原理设计，通过优化探针布局和信号采集模块，显著提升了测量结果的稳定性和重复性，为实验室研究、工业质检等场景提供可靠数据支持。
核心功能与技术特点
设备采用高灵敏度数字信号处理技术，能够自动识别材料电阻范围并匹配最佳测试参数，量程覆盖1mΩ·cm至100kΩ·cm，满足从高导电金属到中高阻半导体材料的宽域测量需求。探针系统选用耐磨碳化钨材质，配合恒压接触设计，可在保证测量精度的同时减少对样品的表面损伤。内置温度补偿算法可有效降低环境波动对测试结果的影响，确保数据准确性在±1%以内。
应用场景与适配性
SZT-1型测试仪支持片状、块状、薄膜状等多种形态样品的直接测量，特别适用于光伏硅片、ITO玻璃、纳米导电薄膜等新型材料的工艺优化与品控管理。其模块化结构设计便于探针间距调节（支持0.5-5mm可选配置），配合可拆卸样品台，可快速适配不同尺寸的待测物。设备配备4.3英寸彩色触控屏，支持数据曲线实时显示与历史记录查询，测量结果可通过USB接口或无线传输至计算机进行深度分析。
操作体验与可靠性
整机采用人机交互界面设计，内置智能引导式操作流程，大幅降低使用门槛。防护等级达IP42的金属机身结构，配合多级电路保护系统，保障设备在复杂工业环境下的长期稳定运行。通过创新性的接触电阻抑制技术，有效消除探针氧化、压力波动等因素引起的测量偏差，为科研创新与生产质控提供精准高效的检测方案。
